Atómová silová mikroskopia

Atómová silová mikroskopia je metóda na zobrazovanie povrchov materiálov s atomárnou rozlišovacou schopnosťou. Je príbuzná STM (Scanning Tunneling Microscopy), ale na rozdiel od STM môže AFM zobrazovať aj nevodivé materiály. Náš výskum bol zameraný na pochopenie zobrazovacieho princípu AFM [1,2] a smeruje k štúdiu možnosti manipulácie s objektami veľkosti atómov [3,4].

Vybrané publikácie:

1. R. Perez, M. C. Payne, I. Stich, K. Terakura: Role of covalent tip-surface interactions in noncontact atomic force microscopy on reactive surfaces, Phys. Rev. Lett. 78, 678 (1997).
2. J. Tobik, I. Stich, R. Perez, K. Terakura: Simulation of tip-surface interactions in atomic force microscopy of an InP(110) surface with a Si tip, Phys. Rev. B 60, 11639 (1999).
3. P. Dieska, I. Stich, R. Perez: Nanomanipulation using only mechanical energy, Phys. Rev. Lett. 95, 126103 (2005).
4. P. Dieska, I. Stich: Nanoengineering with dynamic atomic force microscopy:Lateral interchange of adatoms on a Ge(111)-c(2x8) surface, Phys. Rev. B 79, 125431 (2009).

Kontakt: P. Dieška